镀层测厚仪

EXF镀层测厚仪性能特点：

　　满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求

　　可以满足微小测试点的需求，zui小可达0.2mm

　　高精度移动平台可准确定位测试点.

　　鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点

　　高分辨率探头使分析结果更加准确

　　良好的射线屏蔽作用

　　测试口高度敏感性传感器保护

　　EXF镀层测厚仪技术指标：

　　型号：EXF-10B

　　元素分析范围从铝(Al)到铀(U)。

　　同时可以分析30种以上元素，五层镀层。

　　分析检出限可达2ppm，zui薄可测试0.005μm。

　　分析含量一般为ppm到99.9% 。

　　镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)

　　任意多个可选择的分析和识别模型。

　　相互独立的基体效应校正模型。

　　多变量非线性回收程序

　　工作温度：15℃至30℃ 湿度：≤80%

　　电源: 交流220V±5V

　　外型尺寸：670mm×470mm×370mm

　　测量仓：520mm×370mm×105mm

　　重量：70kg

　　标准配置：

　　精密二维移动样品平台。

　　Si-Pin探测器。

　　信号检测电子电路。

　　高低压电源。

　　X光管。

　　高度传感器

　　保护传感器

　　计算机

　　彩色打印机

　　镀层测厚仪应用领域：

　　黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测.

　　金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。
http://www.exf-rohs.com/SonList-1396065.html
https://www.chem17.com/st301665/product_25794169.html