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可控高温原位X射线测试台

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所在地: 全国
有效期至: 长期有效
最后更新: 2026-01-29 11:02
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公司基本资料信息
详细说明
   一、产品概述
  可控高温原位X射线测试台主要用于研究材料在高温环境下的结构变化与性能表现,适用于晶体材料物相定性和定量分析、衍射谱的指标化和点阵参数的测定、晶粒尺寸及点阵畸变的测定、薄膜物相的测定以及原位高温结构变化的动态分析等。通过该设备,研究人员可以在不破坏样品的情况下,直接观察材料在高温下的结构演变,为材料科学、化学、物理等领域的研究提供有力支持。
  二、装置参数;
  1.装置包含温控器,原位池腔体,加热系统,上位机软件,真空系统
  2.装置采用PID智能控制,USB信号传输,温度曲线数据采集,可存储,可调取;
  3.可多点温控校正,温度可限设置,温度可以多程序段设置,
  4.温度范围常温-1000℃,控温精度小于0.3℃,升温速率:80℃/min
  5.装置采用电阻加热,传感器置于样品下方,能直观反映样品真实温度变化
  6.升温台直径25mm,窗采用半球型结构,平面360°无遮挡采集,进口PEEK材质
  8.装置采用O型圈密封,密封良好,可以抽真空,可充通反应气体
  9.装置采用航空铝材质,装置外形110mm*80mm*50mm,净重0.5Kg;
  10腔体冷却方式:采用循环水冷却;
  11装置.操作简单,安装方便,测试一致性好;
  12.装置广泛应用在各大主流衍射仪品牌上以及同步辐射,无需改装仪器
  三、应用领域
  可控高温原位X射线测试台广泛应用于材料科学、化学、物理等领域的研究中,特别是在研究材料在高温下的结构变化、性能表现以及反应机理方面具有重要意义。
  综上所述,可控高温原位X射线测试台是一种功能强大、易于操作与维护的科研设备,为材料科学、化学、物理等领域的研究提供了有力支持。
http://www.zkwytech.com/Products-38745591.html
https://www.chem17.com/st635835/product_38745591.html
原文链接:http://www.dtcchina.com/chanpin/show-117604.html,转载和复制请保留此链接。
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